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イベントレポート

当社が参加した学会・イベントや、当社主催のイベントのご報告です。

 

河合塾グループ内部講演会
「これだけは知っておきたい!『CEFR』入門」

私たちが所属する河合塾グループ内では、定期的に勉強会やセミナーが行われています。
今回は、野口裕之 Academic Research Fellow(名古屋大学名誉教授)を講演者として、今注目を集めている「CEFR(シー・イー・エフ・アール)」に関する講演会を開催しました。

2020年度から実施される新たな大学入試では、「英語」で民間の資格・検定試験を導入し、4技能を測定・評価しようとしています。ここで今、急速に注目を集めているのが「CEFR」です。「CEFR」は正式には「Common European Framework of Reference for Languages : Learning, teaching, assessment」といい、日本語では「外国語の学習・教授・評価のためのヨーロッパ共通参照枠」と訳されます。日本では「評価」の側面がクローズアップされていますが、決して「評価」だけに利用されてきたものではありません。
CEFRとは何かを正しく知り、ケンブリッジ英検等の言語テストとCEFRとの関係性を理解することは、教育関係者にとって重要と考えています。

まず、CEFRの理念と開発の経緯から話を進め、CEFRとは何か、CEFRは評価基準なのか、CEFRと言語テストとの関連づけなどについて、資料や具体例に基づき、時には議論を交えながら講演を進めてまいりました。
質疑応答の時間では活発な質問が飛び交い、興味関心の高さが伺える講演会となりました。

今回はグループ内部の講演会ですが、当社では外部のお客様からの講演会や勉強会の依頼も積極的に承っております。
ご要望の際はお気軽にご相談ください。

最後になりますが、この講演会で使用した資料を公開いたします。
CEFRに対する、皆様のご理解への一助としてご活用ください。

「講演会資料」のダウンロード

PDFファイルをご覧いただくためにはアドビシステムズ社が無料配布しているAcrobat Reader(アクロバット リーダー)が必要です。お持ちでないかたはダウンロードしてからご利用ください。

 

なお、この資料の著作権は野口裕之に帰属しており、当社が許諾を得て掲載しています。お客様個人で利用するため、この資料をダウンロードしたり、お客様個人のパソコンにデータを保存、またはプリントアウトすることは構いませんが、これを他のWebサイトや印刷媒体に転載したりすることはできません。その他著作権法で認められている範囲を超えて、この資料を著作権者に無断で使用することはできません。

 

英国Cambridge English Language Assessment訪問

2017年3月に、英国のケンブリッジにあるCambridge English Language Assessment(ケンブリッジ大学英語検定機構)を訪問し、テストの作成、学力や能力の測定や評価、テストに出題する問題の管理や運用等について、機構の方々と情報交換を行いました。

(ラウンド・チャーチ)

最先端のテスト理論にもとづくテスト作成やデータ分析、さらに、最新の技術によって問題を統合的に活用する方法等について多くの情報を得ることができました。

(ケンブリッジ大学 キングス・カレッジ)

ここで得られた知見を今後のテスト開発に大いに活かしたいと考えています。

 

河合塾グループ内勉強会
(株)KJホールディングス主催 第4回経営実務担当者勉強会
「体験版 テスティングの新しい世界」

私たちが所属する河合塾グループ内では、定期的に勉強会が行われています。
先日も勉強会が実施され、当社社長が講師となって「体験版 テスティングの新しい世界」と題して、IRTを使ったテストを実際に体験しながら、その活用方法を討論しました。

まず、IRT*で事前に問題の難しさを求め、難度の違うテストを3種類用意しました。そして、参加者にその場で解いてもらい、その場で正答数とIRTによるスコア(潜在特性尺度値)の違いを体感し、IRTの重要な概念の一つである「共通尺度」への理解を深めました。
その後、世界や国内での使用例を提示しながら、共通尺度があればどのような教育サービスに活用できるか、活発な議論が交わされました。

今回の記事はグループ内での勉強会報告ですが、外部のお客様からも講演会や説明会の依頼を積極的に承っております。
ご要望の際は気軽にご相談ください。

*1パラメタ・ロジスティック・モデルを使用

 

日本テスト学会 第14回大会「eテスティングが切り拓く新しい評価」

主催 日本テスト学会
会期 2016年9月8日(木)~9日(金)
会場 電気通信大学
URL http://www.ai.is.uec.ac.jp/jart2016/

2016年9月8~9日に日本テスト学会第14回大会が電気通信大学で行われ、弊社の社長と社員4名が傍聴参加いたしました。
初日は基調講演および公開シンポジウム2件が、2日目は一般セッション7件と企画セッション3件が行われ、多岐にわたる研究の発表とともに、活発な質疑が交わされました。

日本テスト学会第14回大会 イベントレポート

今回の大会は「eテスティングが切り拓く新しい評価」をテーマに、eテスティングや入試改革を中心とした、最新のテストのトピックスに関する報告が多く見られました。
特に、弊社でも平素から研究を行っている項目プールの構築、思考力・判断力・表現力の評価、記述式問題の採点と評価に関する報告は、大変興味深いものがありました。
その他にも、平素よりご協力いただいている先生方をはじめ、様々な分野の研究者の方々との交流を深め、新たな知見につながりました。

日本テスト学会第14回大会 イベントレポート今後も精力的に学会やイベントに参加し、最新トピックスの収集や新たな知見の獲得に努め、今後のテスト作成に活かしてまいります。